球差校正透射电子显微镜（AC-TEM）

项目简介

1. 高分辨率成像：可实现亚埃级分辨率，观察晶体内部的原子排布、位错、孪晶等精细结构。
2. 形貌观察：对材料的内部微结构进行二维显微形貌观察，可配合三维重构技术得到三维立体形貌。
3. 结构分析：通过选区电子衍射（SAED）、会聚束电子衍射（CBED）和高分辨透射图像（HRTEM）分析材料的晶体结构和对称性。
4. 成分分析：结合能谱仪（EDS/EDX）进行元素的点、线、面分布分析，提供原子分辨率的元素分布图。
5. 电子能量损失谱（EELS）：用于分析材料的电子结构、化学态以及轻元素（如C、N、O）的分布。
6. STEM模式成像：包括高角环形暗场（HAADF）、环形明场（ABF）等多种图像类型，适合观察轻重元素的分布。
7. 原位分析：支持原位加热、原位电化学等动态实验，研究材料在特定环境下的变化。
8. Mapping（EDS/EDX）：用于合金、纳米管等材料的元素分布分析，辅助物相鉴定或结构分析。

样品要求

1. 块体样品需通过FIB制样，厚度约30 nm；
2. 粉末样品需提供约10 mg；
3. 纳米颗粒或纳米片建议用微栅或超薄碳膜制样。

结果展示

案例：

1. 测量结果：